高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT测试）是一种对电子和机械装配件利用高、低温变换的高环境应力来揭示设计缺陷和不足的过程。高加速寿命测试的目的是在，短时间内即可进行产品的失效原因分析，可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。

HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。

测试目的

· 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；

· 了解产品的设计能力及失效模式；

· 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；

· 找出产品制造过程的瑕疵；

· 增加产品的可靠性，减少维修成本；

· 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。

实验室高加速测试设备

高加速老化试验机

测试能力

实验室测试范围：

Z低温度：-70℃，Z高温度：150℃

湿度范围：60℃/min

高加速寿命试验项目包括

· 低温步进应力试验；

· 高温步进应力试验；

· 热循环试验；

· 振动步进应力试验；

· 综合应力试验；

· 工作应力测试。